Телемаханик.руТелемаханик - сайт о телевизорах и телевидении
Телемеханик - Системы связи и телемеханики
Системы телеизмерения Системы телеизмерения предназначены для передачи на расстояние значений различных электрических...
Выявление неполадок интегральных микросхем
Наиболее часто интегральные микросхемы отказывают в работе по причине обрыва в соединениях микроэлементов и выводов. Диаметр соединительных проводов микроэлементов составляет всего сотые доли миллиметра, и провода легко разрушаются при ничтожном перегреве. Отпаянная микросхема не может быть установлена вновь, даже если проведенная проверка показала, что она исправна, так как заводы-изготовители микросхем не гарантируют их безотказной работы в результате повторного нагрева проводов.
Единственно бесспорным критерием, указывающим на необходимость замены интегральной микросхемы, является отсутствие импульсных напряжений хотя бы на одном из ее выводов при полном соответствии номинальным напряжений на остальных выводах. Отсюда следует, что выявление неполадок микросхем осуществляют, измеряя осциллографом постоянные и импульсные напряжения на их выводах. Отсчет выводов микросхемы производят со стороны монтажа в направлении против часовой стрелки от имеющейся точки на корпусе микросхемы.
Исправность аналоговых интегральных микросхем определяют по коэффициенту усиления, входному току и напряжению смешения нуля при помощи испытателя интегральных микросхем.
Для выявления неполадок микросхем нельзя применять ампервольтомметр.

Наличие современных технологий и оборудования в сфере электроники позволяет значительно упростить процесс обнаружения и диагностики неполадок в интегральных микросхемах. Несмотря на сложности и тонкость проводов внутри микросхем, современные методы тестирования и проверки позволяют выявить множество проблем до непосредственной установки микросхемы на плату или прибор.

Одним из распространенных методов проверки микросхем является использование автоматических тестеров интегральных схем (ATE), которые позволяют автоматизировать процесс проверки большого количества микросхем. Эти системы могут применять различные методы, включая измерение параметров микросхем, анализ сигналов, проверку функциональности и тестирование на различные условия окружающей среды.